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当前位置：首页 > 产品中心 > 分光光度计 > 扫描型紫外可见分光光度计 > 佑科扫描型紫外可见分光光度计T-UV756
详细介绍
| 品牌 | YOKE/上海佑科 | 光谱带宽 | 2nm |
|---|---|---|---|
| 波长准确度 | ±0.5nm | 杂散光(S.L.) | 0.05%%T |
| 波长范围 | 190-1100nm | 自动程度 | 自动波长 |
| 接收器类 | 光电二极管阵列 | 仪器结构 | 准双光束 |
| 价格区间 | 面议 | 应用领域 | 医疗卫生,环保,食品/农产品,化工,生物产业 |
佑科扫描型紫外可见分光光度计T-UV756 仪器特点：
1. 采用1200条/mm高性能光栅。新型的光源控制系统，使仪器光源切换更快速。
2. 准确的2nm带宽，使测试数据更准确。使用进口长寿命光源，使仪器光源切换更快速。
3.*的波长控制系统，使波长精度更高。改良的光学系统，使测试更准确。
4.采用进口的光电转换器，使仪器的灵敏度更高。
5.新型的微电脑数据处理系统。使仪器的使用更简便，稳定性也很好。
6.仪器采用128*64位点阵液晶显示器，可直接显示标准曲线和测试数据，主机可存储测试数据，并可选配打印机；
UV756CRT型紫外可见分光光度计在UV756的基础上增加了全波段自动扫描功能和连接微机功能。
佑科扫描型紫外可见分光光度计T-UV756 仪器参数：
波长范围：190-1100nm
波长准确度：±0.5nm
波长重复性：0.2nm
光谱带宽：2nm
透射比准确度：±0.5%T
透射比重复性：0.2%T
光度范围：-3~3A ，0-200%T，0~9999C
基线平直度：±0.001A/h
杂散光：0.05%T@220nm、360nm
稳定性：±0.001A/小时 @500nm
显示方式：128*64位点阵液晶显示
Rs232通讯：USB接口
打印机：选配
分析软件：支持
自动八联比色池：选配
光学系统：双光束比例监测
噪声水平：±0.001A/2min@500nm
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